IEC 60749-35-2006 PDF
Name in English:
St IEC 60749-35-2006
Name in Russian:
Ст IEC 60749-35-2006
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35- Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components. IEC 60749-35:2006. Original standard IEC 60749-35-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 35- Акустическая микроскопия электронных компонентов в пластиковых капсулах. IEC 60749-35:2006. Оригинальный стандарт IEC 60749-35-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
52
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stiec03205
More technical details are being prepared for this document.