IEC 60749-40-2011 PDF
Name in English:
St IEC 60749-40-2011
Name in Russian:
Ст IEC 60749-40-2011
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40- Board level drop test method using a strain gauge. IEC 60749-40:2011. Original standard IEC 60749-40-2011 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 40- Метод испытания на падение уровня платы с использованием тензодатчика. IEC 60749-40:2011. Оригинальный стандарт IEC 60749-40-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
48
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec03211
More technical details are being prepared for this document.