IEC 60749-41-2020 PDF
Name in English:
St IEC 60749-41-2020
Name in Russian:
Ст IEC 60749-41-2020
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41- Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices. IEC 60749-41:2020-07(en-fr). Original standard IEC 60749-41-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 41- Стандартные методы испытаний надежности энергонезависимых запоминающих устройств. IEC 60749-41:2020-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-41-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
48
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec03212
More technical details are being prepared for this document.