IEC 62047-12-2011 PDF
Name in English:
St IEC 62047-12-2011
Name in Russian:
Ст IEC 62047-12-2011
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 12- Bending fatigue testing method of thin film materials using resonant vibration of MEMS structures. IEC 62047-12:2011. Original standard IEC 62047-12-2011 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 12- Метод испытания тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации структур MEMS. IEC 62047-12:2011. Оригинальный стандарт IEC 62047-12-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
64
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stiec06308
More technical details are being prepared for this document.