IEC 62047-17-2015 PDF
Name in English:
St IEC 62047-17-2015
Name in Russian:
Ст IEC 62047-17-2015
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 17- Bulge test method for measuring mechanical properties of thin films. IEC 62047-17:2015-03(en-fr). Original standard IEC 62047-17-2015 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 17- Метод испытания на выпучивание для измерения механических свойств тонких пленок. IEC 62047-17:2015-03(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62047-17-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
58
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stiec06313
More technical details are being prepared for this document.