IEC 62374-2007 PDF
Name in English:
St IEC 62374-2007
Name in Russian:
Ст IEC 62374-2007
Description in English:
Semiconductor devices - Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films. IEC 62374:2007. Original standard IEC 62374-2007 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для диэлектрических пленок затвора. IEC 62374:2007. Оригинальный стандарт IEC 62374-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
46
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06899
More technical details are being prepared for this document.