IEC 62418-2010 PDF
Name in English:
St IEC 62418-2010
Name in Russian:
Ст IEC 62418-2010
Description in English:
Semiconductor devices - Metallization stress void test. IEC 62418:2010. Original standard IEC 62418-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Испытание на пустоту под напряжением металлизации. IEC 62418:2010. Оригинальный стандарт IEC 62418-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
38
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06968
More technical details are being prepared for this document.