ASTM RR-F01-1014 1997 PDF
Name in English:
St ASTM RR-F01-1014 1997
Name in Russian:
Ст ASTM RR-F01-1014 1997
Description in English:
Interlaboratory Study to Establish Precision Statements for ASTM F996, Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics. Original standard ASTM RR-F01-1014 1997 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Межлабораторное исследование для установления показателей прецизионности по ASTM F996, стандартному методу разделения вызванного ионизирующим излучением сдвига порогового напряжения МОП-транзистора (MOSFET) на составляющие, обусловленные захваченными в оксиде дырками и состояниями на границе раздела, с использованием подпороговых вольт-амперных характеристик. Оригинальный стандарт ASTM RR-F01-1014 1997 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
296
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
13 business days
SKU:
stastm21053
More technical details are being prepared for this document.