ASTM RR-F01-1016 2000 PDF
Name in English:
St ASTM RR-F01-1016 2000
Name in Russian:
Ст ASTM RR-F01-1016 2000
Description in English:
F1530-Standard Test Method for Measuring Flatness, Thickness, and Thickness Variation on Silicon Wafers by Automated Noncontact Scanning. Original standard ASTM RR-F01-1016 2000 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
F1530 - Стандартный метод измерения плоскостности, толщины и разнотолщинности кремниевых пластин автоматизированным бесконтактным сканированием. Оригинальный стандарт ASTM RR-F01-1016 2000 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
50
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stastm21054
More technical details are being prepared for this document.