IEC 60749-14-2003 PDF
Name in English:
St IEC 60749-14-2003
Name in Russian:
Ст IEC 60749-14-2003
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14- Robustness of terminations (lead integrity). IEC 60749-14:2003. Original standard IEC 60749-14-2003 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 14- Надежность выводов (целостность выводов). IEC 60749-14:2003. Оригинальный стандарт IEC 60749-14-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
36
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec03177
More technical details are being prepared for this document.