IEC 60749-19-2010 PDF
Name in English:
St IEC 60749-19-2010
Name in Russian:
Ст IEC 60749-19-2010
Description in English:
Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 19- Die shear strength. Original standard IEC 60749-19-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Изменение 1 - Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 19- Прочность кристалла на сдвиг. Оригинальный стандарт IEC 60749-19-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
18
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stiec03182
More technical details are being prepared for this document.