IEC 60749-44-2016 PDF
Name in English:
St IEC 60749-44-2016
Name in Russian:
Ст IEC 60749-44-2016
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44- Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices. IEC 60749-44:2016-07(en-fr). Original standard IEC 60749-44-2016 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 44- Метод испытания однособытийного эффекта нейтронного луча (SEE) для полупроводниковых приборов. IEC 60749-44:2016-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 60749-44-2016 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
46
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec03215
More technical details are being prepared for this document.