IEC 62047-34-2019 PDF
Name in English:
St IEC 62047-34-2019
Name in Russian:
Ст IEC 62047-34-2019
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34- Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer. IEC 62047-34:2019-04(en). Original standard IEC 62047-34-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 34- Методы испытаний пьезорезистивного устройства, чувствительного к давлению, MEMS на пластине. IEC 62047-34:2019-04(en). Оригинальный стандарт IEC 62047-34-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06330
More technical details are being prepared for this document.