IEC 62047-45-2025 PDF
Name in English:
St IEC 62047-45-2025
Name in Russian:
Ст IEC 62047-45-2025
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 45- Silicon based MEMS fabrication technology - Measurement method of impact resistance of nanostructures. IEC 62047-45:2025-03. Original standard IEC 62047-45-2025 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 45- Технология изготовления MEMS на основе кремния - Метод измерения ударной прочности наноструктур. IEC 62047-45:2025-03. Оригинальный стандарт IEC 62047-45-2025 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06341
More technical details are being prepared for this document.