IEC 62047-8-2011 PDF
Name in English:
St IEC 62047-8-2011
Name in Russian:
Ст IEC 62047-8-2011
Description in English:
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 8- Strip bending test method for tensile property measurement of thin films. IEC 62047-8:2011. Original standard IEC 62047-8-2011 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Микроэлектромеханические устройства - Часть 8- Метод испытания полосы на изгиб для измерения свойств тонких пленок на растяжение. IEC 62047-8:2011. Оригинальный стандарт IEC 62047-8-2011 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
40
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06350
More technical details are being prepared for this document.