IEC 62373-1-2020 PDF
Name in English:
St IEC 62373-1-2020
Name in Russian:
Ст IEC 62373-1-2020
Description in English:
Semiconductor devices - Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) - Part 1- Fast BTI test for MOSFET. IEC 62373-1:2020-07(en-fr). Original standard IEC 62373-1-2020 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Испытание температурной стабильности смещения для металлооксидных, полупроводниковых и полевых транзисторов (MOSFET) - Часть 1- Быстрый испытание BTI для MOSFET. IEC 62373-1:2020-07(en-fr). Оригинальный стандарт IEC 62373-1-2020 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
48
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06896
More technical details are being prepared for this document.