IEC 62374-1-2010 PDF
Name in English:
St IEC 62374-1-2010
Name in Russian:
Ст IEC 62374-1-2010
Description in English:
Semiconductor devices - Part 1- Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers. IEC 62374-1:2010. Original standard IEC 62374-1-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Часть 1- Испытание на временной диэлектрический пробой (TDDB) для межметаллических слоев. IEC 62374-1:2010. Оригинальный стандарт IEC 62374-1-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
36
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec06898
More technical details are being prepared for this document.