IEC 62880-1-2017 PDF
Name in English:
St IEC 62880-1-2017
Name in Russian:
Ст IEC 62880-1-2017
Description in English:
Semiconductor devices - Stress migration test standard - Part 1- Copper stress migration test standard. IEC 62880-1:2017-08(en). Original standard IEC 62880-1-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Стандарт испытаний на миграцию под действием механических напряжений - Часть 1- Стандарт испытаний меди на миграцию под действием механических напряжений. IEC 62880-1:2017-08(en). Оригинальный стандарт IEC 62880-1-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
28
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec07665
More technical details are being prepared for this document.