ISO 17109-2022 PDF
Name in English:
St ISO 17109-2022
Name in Russian:
Ст ISO 17109-2022
Description in English:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films. Original standard ISO 17109-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Метод определения скорости распыления в рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, оже-электронной спектроскопии и масс-спектрометрии вторичных ионов. Профилирование по глубине распыления с использованием однослойных и многослойных тонких пленок. Оригинальный стандарт ISO 17109-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
28
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso07437
More technical details are being prepared for this document.