ISO 17331-2004 PDF
Name in English:
St ISO 17331-2004
Name in Russian:
Ст ISO 17331-2004
Description in English:
Surface chemical analysis - Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy. Original standard ISO 17331-2004 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Поверхностный химический анализ - химические методы сбора элементов с поверхности кремниевых пластин в качестве рабочих эталонных материалов и их определения методом рентгеновской флуоресценции с полным отражением (TXRF). Оригинальный стандарт ISO 17331-2004 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
8
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stiso07637
More technical details are being prepared for this document.