ISO 22415-2019 PDF
Name in English:
St ISO 22415-2019
Name in Russian:
Ст ISO 22415-2019
Description in English:
Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials. Original standard ISO 22415-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - Масс-спектрометрия вторичных ионов - Метод определения объема выхода при профилировании глубины органических материалов методом распыления аргоновыми кластерами. Оригинальный стандарт ISO 22415-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
38
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso11660
More technical details are being prepared for this document.