ISO 23170-2022 PDF
Name in English:
St ISO 23170-2022
Name in Russian:
Ст ISO 23170-2022
Description in English:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering. Original standard ISO 23170-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Неразрушающее профилирование по глубине тонких пленок наноразмерных оксидов тяжелых металлов на кремниевых подложках с использованием рассеяния ионов средней энергии. Оригинальный стандарт ISO 23170-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
36
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso12269
More technical details are being prepared for this document.