BS EN 62373-2006 PDF
Name in English:
STB BS EN 62373-2006
Name in Russian:
СТБ BS EN 62373-2006
Description in English:
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET). Original standard BS EN 62373-2006 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Испытание стабильности при изменении напряжения и температуры для полевых транзисторов на основе металлооксидных полупроводников (MOSFET). Оригинальный стандарт BS EN 62373-2006 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
16
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stbs20834
More technical details are being prepared for this document.