BS EN 62374-1-2010 (2011) PDF
Name in English:
STB BS EN 62374-1-2010 (2011)
Name in Russian:
СТБ BS EN 62374-1-2010 (2011)
Description in English:
Semiconductor devices - Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers. Original standard BS EN 62374-1-2010 (2011) in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Тест на диэлектрический пробой во времени (TDDB) для межметаллических слоев. Оригинальный стандарт BS EN 62374-1-2010 (2011) в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs20835
More technical details are being prepared for this document.