BS EN 62374-2007 PDF
Name in English:
STB BS EN 62374-2007
Name in Russian:
СТБ BS EN 62374-2007
Description in English:
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films. Original standard BS EN 62374-2007 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы. Тест на диэлектрический пробой во времени (TDDB) для пленок затворного диэлектрика. Оригинальный стандарт BS EN 62374-2007 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
24
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs20836
More technical details are being prepared for this document.