JEDEC JESD22-A117E-2018 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD22-A117E-2018
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD22-A117E-2018
Description in English:
Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test. Original standard JEDEC JESD22-A117E-2018 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Испытания электрически стираемых программируемых ПЗУ (EEPROM) на ресурс циклов программирования/стирания и сохранность данных при воздействии нагрузок. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-A117E-2018 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
24
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000172
More technical details are being prepared for this document.